РУБРИКИ

Минералогия

   РЕКЛАМА

Главная

Зоология

Инвестиции

Информатика

Искусство и культура

Исторические личности

История

Кибернетика

Коммуникации и связь

Косметология

Криптология

Кулинария

Культурология

Логика

Логистика

Банковское дело

Безопасность жизнедеятельности

Бизнес-план

Биология

Бухучет управленчучет

Водоснабжение водоотведение

Военная кафедра

География экономическая география

Геодезия

Геология

Животные

Жилищное право

Законодательство и право

Здоровье

Земельное право

Иностранные языки лингвистика

ПОДПИСКА

Рассылка на E-mail

ПОИСК

Минералогия

Минералогия

      Министерство  Образования и Науки  Российской Федерации

               Государственное Образовательное  Учреждение

                   Оренбургский Государственный Университет.



                                    Кафедра  геологии

                   Факультет Вечернего и Заочного Обучения

                    Контрольная работа по Кристаллографии и

                                         Минералогии.

                           










Выполнил: студент Вечернего и                                                                       Заочного обучения Мулюков Фарид

Курс 1   Группа 07 ГС  Специальность ГС

Проверила:  Дёмина Тамара Яковлевна

 


                                              

                                                Содержание.

1.Закономерности  роста кристаллических

          многогранников……………………………………………………………………….. 3


2 Сложение (сочетание) элементов симметрии. Теоремы

          и доказательства……………………………………………………………………….6


3 Порядок осей симметрии. Элементарный

          угол поворота…………………………………………………………………………..10


4 Список использованной литературы……………………………………………..13













                                                                                                

 

  1.Закономерности  роста кристаллических многогранников.


          Когда кристалл растет, частицы вы­страиваются в закономерные и сим­метричные ряды, сетки, решетки. Грани кристаллических многогранников со­ответствуют плоскостям, составленным из материальных частиц, ребра кри­сталла — линиям пересечения этих плоскостей, т. е. рядам материальных частиц. Центры масс частиц могут об­разовать плоские сетки и ряды ре­шетки. Очевидно, любой ряд в струк­туре соответствует возможному ребру кристалла, а любая плоскость — воз­можной грани кристалла.

Кристалл растет так, что частицы вещества из окружающей среды отла­гаются на его гранях. Грани нарастают параллельно самим себе (рис. 1). Меняются площади граней, их форма, какие-то грани могут вытесняться со­седними и зарастать, но взаимный на­клон граней остается неизменным. По­этому углы между гранями тоже оста­ются постоянными.


  рис.  1


Схема параллельного  нарастания  граней кри­сталла Стрелками  изображены  

нормали  к  граням


В этом заключается количественный закон кристаллографии, открытый Николаем Стеноном (1669) —закон постоянства углов:

во всех кристаллах данного веще­ства при одинаковых условиях углы между соответствующими гранями кристаллов постоянны.


В законе под одинаковыми условиями по­нимаются одинаковые температура и давле­ние. Тем самым подразумевается, что, если у вещества есть несколько полиморфных моди­фикаций, речь здесь идет об одной модифи­кации.

     Кристаллы разных веществ отлича­ются друг от друга внешней формой. У кристаллов одного и того же веще­ства облик (габитус) может оказаться совсем различным, размеры, формы и даже число граней разные, но углы между соответствующими гранями кристаллов одного вещества всегда постоянны.

  Закон постоянства углов дает воз­можность свести все многообразие форм кристаллических многогранни­ков к совокупности углов между гра­нями изобразить их с помощью про­екции. Этот закон сыграл огромную роль в развитии кристаллографии. До открытия дифракции рентгеновских лучей и разработки рентгеноструктурного анализа кристаллические вещест­ва характеризовали и отличали одно от другого только по углам между их гранями. Основным методом диагно­стики кристаллических веществ были измерение углов между гранями с по­мощью угломерного прибора, так на­зываемого гониометра — прикладного или отражательного. Метод гониометрии не утратил своего значения и в настоя­щее время.



 рис.  2


К выводу условия Вульфа — Брэгга

Грани кристаллического многогран­ника соответствуют определенным сет­кам структуры, поэтому углы между гранями отвечают углам между пло­скими сетками в структуре кристалла. Теперь эти углы измеряют с помощью рентгенограмм, для чего не обязатель­но иметь большой кристалл с правиль­ной внешней огранкой, а достаточно крупинки кристаллического вещества. Поскольку длины волны рентгеновско­го излучения соизмеримы с межатом­ными расстояниями в кристаллических структурах, кристаллы являются при­родными дифракционными решетками. Именно с помощью дифракции рентге­новских лучей было доказано решет­чатое строение кристаллов (М. Лауэ, 1912). Схема, поясняющая дифракцию, дана на рис. 2: So — пучок монохро­матических рентгеновских лучей, па­дающих под углом 8 на семейство па­раллельных атомных плоскостей, S — пучок дифрагированных лучей. Диф­рагированные лучи усиливают друг друга, если согласно условию интер­ференции разность хода Д между ни­ми равна целому числу длин волн, т.е.

А = rik    (п = 1, 2, 3, ...).

Из чертежа видно, что разность хо­да между падающим и        

       дифрагированным  лучами равна

Д= РО + OQ = 2РО = 2d sin 0.


Чтобы волны, рассеянные двумя со­седними плоскими сетками (а значит, и всем семейством параллельных пло­ских сеток), дали максимум интенсив­ности, необходимо выполнение основ­ного закона дифракции рентгеновских лучей в кристаллах:

2dsin9 = nX   (л = 1, 2, 3, ...)•    (1.1)

Это равенство выражает условие Вуль­фа — Брэгга *.

Иначе говоря, если луч с длиной волны X падает на совокупность па­раллельных атомных плоскостей, от­стоящих друг от друга на расстоя­нии d, то он порождает дифрагирован­ный луч, идущий так, как шел бы луч, отраженный под углом 8. Таким обра­зом, при определенных углах падения плоские сетки в структуре кристалла могут «отражать» рентгеновские лучи.